High Accuracy Fluorescence Guided Focused Ion Beam Milling
Dit artikel presenteert geavanceerde workflows voor fluorescentie-gestuurde cryo-FIB-milling die gebruikmaken van verschillende targetstrategieën voor objecten van verschillende grootte om registratiefouten te overwinnen en de routinematige, hoogprecieze opname van zowel grote als kleine celstructuren voor cryo-elektronentomografie mogelijk te maken.